XRF涂層厚度測量 L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件，L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12“x22“x24“（LxWxH）的樣品。XY平臺的行程為13“x10“。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件，L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12“x22“x24“（LxWxH）的樣品。XY平臺的行程為13“x10“。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀G系列是博曼的一款機型。該機型機構緊湊，沒有可移動部件。與博曼其他系列不同，該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上，并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小，可手動調整樣品位置測量樣品，該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業的鍍層分析與應用。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式，配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置，但沒有可編程的XY樣品臺。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀P系列 提供了測量各種樣品尺寸，形狀和數量的靈活性。它配備了一個高精度可編程XY平臺,可在一個固定階段提供多種便利因素。操作員可以使用鼠標和軟件界面輕松移動到所需的測量位置?？梢詣摻ǘ帱c程序，通過單擊按鈕自動測量多個樣品位置。精確控制可用于測試關鍵區域。通過多點編程可以獲得更大的采樣量。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 O系列采用毛細管光學結構，擁有精準的測試性能，同時能實現極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結構取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器，在短時間內捕捉并處理大量數據，在短時間內滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結果（準確性和重復性）。